GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

该文档还未正式上传请联系人工客服处理

需要人工协助寻找标准请加微信:msxygy666666 尽可能解决您的需要。

标准编号:GB/T 34893-2017

标准名称:微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

标准类型:推荐性

标准英文:Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer

标准状态:现行

发布日期:2018-05-01

实施日期:2017-11-01

标准语言:中文

发布部委:

国际分类:电子学

国内标准分类号:L55

国际标准分类:31.200

技术归口:全国微机电技术标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

标准类别:方法

代替标准:

起草单位:天津大学国家仪器仪表元器件质量监督检验中心中国电子科技集团公司第十三研究所 中机生产力促进中心 南京理工大学

起草人:胡晓东 郭彤 程红兵 裘安萍 于振毅李海斌崔波朱悦

需要人工协助寻找标准请加微信:msxygy666666 提供优质服务 全网查新
©下载资源版权归作者所有;本站所有资源均来源于网络,仅供学习使用,请支持正版!
☉免责声明:本站所有标准均来自用户分享和网络收集,仅供学习与参考,请勿用于商业用途,如果损害了您的权利,请联系网站客服,我们核实后会立即删除。

可查新、可协助