GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

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标准编号：GB/T 36477-2018

标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

标准状态：现行

发布日期：2019-01-01

实施日期：2018-06-07

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L56

国际标准分类：31.200

技术归口：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国电子技术标准化研究院上海复旦微电子集团股份有限公司北京兆易创新科技股份有限公司中兴通讯股份有限公司 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 深圳市中兴微电子技术有限公司 复旦大学

起草人：菅端端 陈大为 冯光涛 倪昊 田万廷 高硕 钟明琛罗晓羽赵子鉴董艺闵昊刘刚