GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

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标准编号：GB/T 11685-2003

标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

标准类型：推荐性

标准英文：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

标准状态：现行

发布日期：2004-01-01

实施日期：2003-07-07

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：能源和热传导工程

国内标准分类号：F80

国际标准分类：27.120.01

技术归口：全国核仪器仪表标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988

起草单位：核工业标准化研究所

起草人：