GB/T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）

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标准编号：GB/T 4937.31-2023

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced）

标准状态：现行

发布日期：2023-12-01

实施日期：2023-05-23

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L40

国际标准分类：31.080.01

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所安徽钜芯半导体科技有限公司北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司山东省中智科标准化研究院有限公司 河北北芯半导体科技有限公司 河北中电科航检测技术服务有限公司 绵阳迈可微检测技术有限公司 佛山市川东磁电股份有限公司

起草人：裴选 彭浩 席善斌 魏兵 米村艳 李明钢 张魁曹孙根赵鹏徐昕颜天宝