GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）

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标准编号：GB/T 4937.32-2023

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices（externally induced）

标准状态：现行

发布日期：2023-12-01

实施日期：2023-05-23

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L40

国际标准分类：31.080.01

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所合肥联诺科技股份有限公司广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司 河北北芯半导体科技有限公司 河北中电科航检测技术服务有限公司 佛山市川东磁电股份有限公司

起草人：裴选 张魁 彭浩 魏兵 黄纪业席善斌林瑜攀颜天宝