GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法

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标准编号：GB/T 1555-2023

标准名称：半导体单晶晶向测定方法

标准类型：推荐性

标准英文：Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal

标准状态：现行

发布日期：2024-03-01

实施日期：2023-08-06

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：冶金

国内标准分类号：H21

国际标准分类：77.040

技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：GB/T 1555-2009

起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所浙江金瑞泓科技股份有限公司浙江海纳半导体股份有限公司云南驰宏国际锗业有限公司浙江旭盛电子有限公司丹东新东方晶体仪器有限公司新美光（苏州）半导体科技有限公司 有色金属技术经济研究院有限责任公司 有研国晶辉新材料有限公司 哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司 北京通美晶体技术股份有限公司 中国电子科技集团公司第十三研究所 国标（北京）检验认证有限公司

起草人：许蓉 刘立娜 马春喜 张海英 麻皓月 潘金平 任殿胜 王元立 赵松彬 王书明 赵丽丽 夏秋良 李素青庞越林泉尚鹏廖吉伟崔丁方陈跃骅孙聂枫李晓岚史艳磊