GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

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标准编号：GB/T 43226-2023

标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

标准状态：现行

发布日期：2024-01-01

实施日期：2023-09-07

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：航空器和航天器工程

国内标准分类号：V25

国际标准分类：49.140

技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：北京微电子技术研究所 中国航天电子技术研究院

起草人：赵元富 陈雷 郑宏超 李哲 陈淼 王汉宁 王亮岳素格林建京李永峰