GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

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标准编号：GB/T 42969-2023

标准名称：元器件位移损伤试验方法

标准类型：推荐性

标准英文：Displacement damage test method for components

标准状态：现行

发布日期：2024-01-01

实施日期：2023-09-07

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L56

国际标准分类：31.200

技术归口：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国空间技术研究院西北核技术研究院中国科学院新疆理化技术研究所 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 中国电子科技集团公司第四十四研究所 扬州大学

起草人：罗磊 于庆奎 张洪伟 郑春 汪朝敏 李豫东 唐民朱恒静陈伟丁李利文林薛玉雄