GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
标准编号：GB/T 17444-2013
标准名称：红外焦平面阵列参数测试方法
标准类型：推荐性
标准英文：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
标准状态：现行
发布日期：2014-04-15
实施日期：2013-11-12
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L52
国际标准分类：31.260
技术归口：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：方法
代替标准：GB/T 17444-1998
起草单位：中国科学院上海技术物理研究所
起草人：丁瑞军 梁平治 曹妩媚 殷建军 唐红兰陈洪雷
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