GB/T 45722-2025 半导体器件 恒流电迁移试验

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标准编号：GB/T 45722-2025

标准名称：半导体器件 恒流电迁移试验

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor devices—Constant current electromigration test

标准状态：即将实施

发布日期：2025-09-01

实施日期：2025-05-30

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L40

国际标准分类：31.080.01

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：工业和信息化部电子第五研究所中国电子科技集团公司第十三研究所深圳市诚芯微科技股份有限公司中绍宣标准科技集团有限公司 西安电子科技大学 深圳市威兆半导体股份有限公司 广东工业大学 深圳市天成照明有限公司

起草人：章晓文 林晓玲 尹丽晶 贺致远 雷登云 王铁羊 彭浩 李伟聪 林坚耿 游海龙周斌来萍张战刚孟苓辉陈义强曹建林崔从俊