GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

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标准编号：GB/T 4326-2006

标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

标准类型：推荐性

标准英文：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

标准状态：现行

发布日期：2006-11-01

实施日期：2006-07-18

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：冶金

国内标准分类号：H17

国际标准分类：77.040.01

技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：GB/T 4326-1984

起草单位：北京有色金属研究总院

起草人：王彤涵