GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

点击我下载

标准编号：GB/T 4937.1-2006

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

标准状态：现行

发布日期：2007-02-01

实施日期：2006-08-23

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L40

国际标准分类：31.080.01

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人：陈海蓉 崔波