SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

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标准编号：SJ/T 11703-2018

标准名称：数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

标准状态：现行

发布日期：2018-02-08

实施日期：2018-03-31

标准语言：中文

发布部委：工业和信息化部

行业分类：电子

所属部委：工业和信息化部

国内标准分类号：L55

国际标准分类：31.2

技术归口：全国集成电路标准化分技术委员会

发布部门：工业和信息化部

行业标准：信息传输、软件和信息技术服务业

制修订：制定

代替标准：

起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

起草人：王琪、张崤君、贾松良 等