SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法
该文档还未正式上传请联系人工客服处理
人工代下载标准请加微信:msxygy666666 提供各种标准,您需要什么就提供什么,2元1份。
标准编号:SJ/T 11499-2015
标准名称:碳化硅单晶电学性能的测试方法
标准状态:现行
发布日期:2015-04-29
实施日期:2015-09-30
标准语言:中文
发布部委:工业和信息化部
行业分类:电子
所属部委:工业和信息化部
国内标准分类号:H83
国际标准分类:29.045
技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门:工业和信息化部
行业标准:无
制修订:制定
代替标准:
起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人:丁丽、郑庆瑜、蔺娴 等
电子版标准代下载服务微信联系:msxygy666666 提供优质服务 全网查新 全网最低
©下载资源版权归作者所有;本站所有资源均来源于网络,仅供学习使用,请支持正版!
©下载资源版权归作者所有;本站所有资源均来源于网络,仅供学习使用,请支持正版!
☉免责声明:本站所有标准均来自用户分享和网络收集,仅供学习与参考,请勿用于商业用途,如果损害了您的权利,请联系网站客服,我们核实后会立即删除。