DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

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标准编号：DB51/T 3207-2024

标准名称：集成电路测试用微波探针应用规范

所属地方：四川省

标准状态：现行

发布日期：2024-12-02

实施日期：2024-12-28

标准语言：中文

发布部委：四川省市场监督管理局

国内标准分类号：L 86

国际标准分类：17.220

技术归口：四川省经济和信息化厅

标准类别：方法标准

代替标准：

起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所

起草人：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪