DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法
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标准编号:DB35/T 1370-2013
标准名称:发光二极管芯片点测方法
所属地方:福建省
标准状态:现行
发布日期:2013-12-03
实施日期:2014-02-28
标准语言:中文
发布部委:福建省质量技术监督局
国内标准分类号:L45
国际标准分类:31.260
技术归口:省信息化局
标准类别:方法标准
代替标准:
起草单位:厦门市三安光电科技有限公司、厦门市产品质量监督检验院、福建省光电行业协会、国家半导体发光器件(LED)应用产品质量监督检验中心
起草人:蔡伟智、梁奋、李国煌、吕艳、时军朋、葛莉荭、黄松金、刘毅清、陈涛、兰国政
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