DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法

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标准编号：DB35/T 1370-2013

标准名称：发光二极管芯片点测方法

所属地方：福建省

标准状态：现行

发布日期：2013-12-03

实施日期：2014-02-28

标准语言：中文

发布部委：福建省质量技术监督局

国内标准分类号：L45

国际标准分类：31.260

技术归口：省信息化局

标准类别：方法标准

代替标准：

起草单位：厦门市三安光电科技有限公司、厦门市产品质量监督检验院、福建省光电行业协会、国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心

起草人：蔡伟智、梁奋、李国煌、吕艳、时军朋、葛莉荭、黄松金、刘毅清、陈涛、兰国政