GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

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标准编号：GB/T 35007-2018

标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

标准状态：现行

发布日期：2018-08-01

实施日期：2018-03-15

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L56

国际标准分类：31.200

技术归口：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：成都振芯科技股份有限公司工业和信息化部电子第五研究所深圳市众志联合电子有限公司 工业和信息化部电子工业标准化研究院 深圳市国微电子有限公司 中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人：陈雁 罗彬 李锟 蔡志刚 郭超王会影邬海忠钟科