GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

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标准编号：GB/T 35006-2018

标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

标准状态：现行

发布日期：2018-08-01

实施日期：2018-03-15

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L56

国际标准分类：31.200

技术归口：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：深圳市国微电子有限公司工业和信息化部电子第五研究所 中国电子科技集团公司第五十八研究所 成都振芯科技股份有限公司

起草人：宦承永 邬海忠 王小强 罗彬 陆坚魏军