GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

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标准编号：GB/T 37051-2018

标准名称：太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

标准类型：推荐性

标准英文：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer

标准状态：现行

发布日期：2019-04-01

实施日期：2018-12-28

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电气工程

国内标准分类号：H80

国际标准分类：29.045

技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：英利集团有限公司江西赛维LDK太阳能高科技有限公司晋能清洁能源科技有限公司天津英利新能源有限公司 中国电子技术标准化研究院 泰州中来光电科技有限公司 镇江仁德新能源科技有限公司

起草人：李锋 李英叶 吴翠姑 冯亚彬 唐骏 段青春张伟裴会川程小娟