GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

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标准编号：GB/T 15651.3-2003

标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

标准状态：现行

发布日期：2004-08-01

实施日期：2003-11-24

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L50

国际标准分类：31.260

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂

起草人：