GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

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标准编号：GB/T 11297.6-1989

标准名称：锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

标准类型：推荐性

标准英文：Standard method for showing andmeasuring dislocation etch pits in indium antimonide single crystal

标准状态：现行

发布日期：1990-01-01

实施日期：1989-03-31

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：

国内标准分类号：L32

国际标准分类：

技术归口：>全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：>国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：电子十一所

起草人：