GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

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标准编号：GB/T 14032-1992

标准名称：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

标准类型：推荐性

标准英文：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits

标准状态：现行

发布日期：1993-08-01

实施日期：1992-12-17

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L55

国际标准分类：31.200

技术归口：>全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：>工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：上海元件五厂

起草人：