GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）

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标准编号：GB/T 19403.1-2003

标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

标准状态：现行

发布日期：2004-08-01

实施日期：2003-11-24

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L56

国际标准分类：31.200

技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：产品

代替标准：

起草单位：信息产业部第四研究所

起草人：