SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

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标准编号：SJ/T 11766-2020

标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准状态：现行

发布日期：2020-12-08

实施日期：2021-03-31

标准语言：中文

发布部委：工业和信息化部

行业分类：电子

所属部委：工业和信息化部

国内标准分类号：L 50

国际标准分类：31.080.01

技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

发布部门：工业和信息化部

行业标准：无

制修订：制定

代替标准：

起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人：余永涛、胡为、张伟 等