GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法
该文档还未正式上传请联系人工客服处理
人工代下载标准请加微信:msxygy666666 提供各种标准,您需要什么就提供什么,2元1份。
标准编号:GB/T 26067-2010
标准名称:硅片切口尺寸测试方法
标准类型:推荐性
标准英文:Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
标准状态:现行
发布日期:2011-10-01
实施日期:2011-01-10
标准语言:中文
发布部委:
国际分类:电气工程
国内标准分类号:H80
国际标准分类:29.045
技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
标准类别:方法
代替标准:
起草单位:有研半导体材料股份有限公司 万向硅峰电子股份有限公司
起草人:杜娟 孙燕 卢延廷楼春兰
电子版标准代下载服务微信联系:msxygy666666 提供优质服务 全网查新 全网最低
©下载资源版权归作者所有;本站所有资源均来源于网络,仅供学习使用,请支持正版!
©下载资源版权归作者所有;本站所有资源均来源于网络,仅供学习使用,请支持正版!
☉免责声明:本站所有标准均来自用户分享和网络收集,仅供学习与参考,请勿用于商业用途,如果损害了您的权利,请联系网站客服,我们核实后会立即删除。