GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

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标准编号：GB/T 33236-2016

标准名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

标准类型：推荐性

标准英文：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

标准状态：现行

发布日期：2017-11-01

实施日期：2016-12-13

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：化工技术

国内标准分类号：G04

国际标准分类：71.040.40

技术归口：全国微束分析标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所

起草人：卓尚军 钱荣 盛成 高捷 董疆丽申如香郑文平