GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法

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标准编号：GB/T 36613-2018

标准名称：发光二极管芯片点测方法

标准类型：推荐性

标准英文：Probe test method for light emitting diode chips

标准状态：现行

发布日期：2019-01-01

实施日期：2018-09-17

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L45

国际标准分类：31.260

技术归口：工业和信息化部（电子）

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：三安光电股份有限公司中国电子技术标准化研究院 厦门市三安光电科技有限公司 广州赛西标准检测研究院有限公司

起草人：蔡伟智 梁奋 吕艳 金威 时军朋 刘秀娟李国煌邵晓娟周钢