GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)
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标准编号:GB/T 4937.26-2023
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)
标准类型:推荐性
标准英文:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model(HBM)
标准状态:现行
发布日期:2024-04-01
实施日期:2023-09-07
标准语言:中文
发布部委:
国际分类:电子学
国内标准分类号:L40
国际标准分类:31.080.01
技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
标准类别:方法
代替标准:
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司佛山市川东磁电股份有限公司 河北北芯半导体科技有限公司 北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司 捷捷半导体有限公司
起草人:高蕾 张魁 翟玉颖 彭浩 黄杰 赵鹏 黎重林 颜天宝 鲁世斌迟雷高金环张瑞霞徐昕魏兵金哲
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