GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

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标准编号：GB/T 42975-2023

标准名称：半导体集成电路 驱动器测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

标准状态：现行

发布日期：2024-01-01

实施日期：2023-09-07

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L56

国际标准分类：31.200

技术归口：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国电子技术标准化研究院安徽大华半导体科技有限公司广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 中国电子科技集团公司第二十四研究所 中国电子科技集团公司第十三研究所 中国电子科技集团公司第五十八研究所 成都振芯科技股份有限公司

起草人：刘芳 周俊 刘凡 霍玉柱 梁希 王会影 杨晓强纵雷林瑜攀陆坚