GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

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标准编号：GB/T 43063-2023

标准名称：集成电路 CMOS图像传感器测试方法

标准类型：推荐性

标准英文：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

标准状态：现行

发布日期：2024-01-01

实施日期：2023-09-07

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L54

国际标准分类：31.200

技术归口：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所天津大学中国电子技术标准化研究院 重庆光电技术研究所 长春精测光电技术有限公司 深圳佑驾创新科技有限公司

起草人：李俊霖 张涛 赵宇 聂真威 马洪涛 卢岩 唐延甫 聂凯明 马悦 刘国清 兰太吉杨永强韩冰金辉徐江涛刘昌举李金高志远王琪刘秀娟