GB/T 43035-2023 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

该文档还未正式上传请联系人工客服处理

需要人工协助寻找标准请加微信:msxygy666666 尽可能解决您的需要。

标准编号:GB/T 43035-2023

标准名称:半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

标准类型:推荐性

标准英文:Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination

标准状态:现行

发布日期:2023-09-07

实施日期:2023-09-07

标准语言:中文

发布部委:

国际分类:电子学

国内标准分类号:L57

国际标准分类:31.200

技术归口:全国集成电路标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

标准类别:方法

代替标准:

起草单位:中国电子科技集团公司第四十三研究所 中国电子技术标准化研究院

起草人:王婷婷 呂红杰 李林森 雷剑 冯玲玲王琪张亚娟

需要人工协助寻找标准请加微信:msxygy666666 提供优质服务 全网查新
©下载资源版权归作者所有;本站所有资源均来源于网络,仅供学习使用,请支持正版!
☉免责声明:本站所有标准均来自用户分享和网络收集,仅供学习与参考,请勿用于商业用途,如果损害了您的权利,请联系网站客服,我们核实后会立即删除。

可查新、可协助