GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

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标准编号：GB/T 4937.35-2024

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

标准类型：推荐性

标准英文：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

标准状态：即将实施

发布日期：2024-07-01

实施日期：2024-03-15

标准语言：中文

发布部委：

国际分类：电子学

国内标准分类号：L40

国际标准分类：31.080.01

技术归口：工业和信息化部（电子）

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准类别：方法

代替标准：

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人：裴选 赵海龙 彭浩尹丽晶