SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量

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标准编号：SJ/T 2658.7-2015

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量

标准状态：现行

发布日期：2015-10-09

实施日期：2016-03-31

标准语言：中文

发布部委：工业和信息化部

行业分类：电子

所属部委：工业和信息化部

国内标准分类号：L53

国际标准分类：31.080

技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院

发布部门：工业和信息化部

行业标准：无

制修订：修订

代替标准：SJ/T 2658.7-1986

起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人：张戈、赵英