YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

点击我下载

标准编号：YS/T 679-2008

标准名称：非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

标准状态：有更新版

发布日期：2008-03-11

实施日期：2008-08-31

标准语言：中文

发布部委：国家发展和改革委员会

行业分类：有色金属

所属部委：国家发展和改革委员会

国内标准分类号：H80

国际标准分类：

技术归口：全国有色金属标准化技术委员会

发布部门：国家发展和改革委员会

行业标准：无

制修订：制定

代替标准：

起草单位：有研半导体材料股份有限公司

起草人：孙燕、卢立延 等